标准设备
外观检测、尺寸测量、三维线扫、工业相机和光源控制器,规格公开,可按产线节拍选型。
XC_SL4710L4M25-055/060
超高精度 · 微米级点云 · 2D+2.5D+3D一体化采集+AI检测
XC-FMI3D-200
2D + 3D融合 · 精密运控 · 微米级快速测量